4001-123-022 
共聚焦顯微鏡拍照與普通熒光顯微鏡拍照有什么不同 - 分析行業(yè)新聞
日期：2023-02-19 16:07 瀏覽次數(shù)：104
共聚焦顯微鏡用激光做光源，光電倍增管做檢測(cè)器，逐點(diǎn)掃描，對(duì)應(yīng)每個(gè)像素其能量比較高；普通熒光顯微鏡用汞燈作為光源，雖然總功率高，但屬于場(chǎng)照明，對(duì)應(yīng)每個(gè)像素的能量并沒有激光高。 共聚焦利用針孔成像，可以排除焦平面上焦點(diǎn)以外及非焦平面雜散光的影響，因此空間分辨率提高，但因?yàn)槭敲總€(gè)像素每個(gè)像素逐點(diǎn)掃描，采集較慢，一張圖并不是同一時(shí)間采集的，時(shí)間分辨率不高；普通顯微鏡利用CCD成像，拍照取的是樣品的同一時(shí) 
間。
聯(lián)系我們
全國服務(wù)熱線
4001-123-022
公司：微儀光電臺(tái)式掃描電子顯微鏡銷售部
地址：天津市東麗區(qū)華明**產(chǎn)業(yè)區(qū)華興路15號(hào)A座
相關(guān)資訊推薦
- SEM掃描電鏡各工作模式對(duì)應(yīng)的應(yīng)用領(lǐng)域介紹
- SEM掃描電鏡樣品圖像變形的原因和解決辦法分享
- SEM掃描電鏡在磁性材料測(cè)試中的挑戰(zhàn)、解決方案與應(yīng)用實(shí)踐
- SEM掃描電鏡拍攝條件全解析：從參數(shù)設(shè)置到樣品制備的指南
- SEM掃描電鏡生物樣品制備技術(shù)全攻略：從固定到鍍膜的關(guān)鍵細(xì)節(jié)解析
- SEM掃描電鏡故障全攻略：從"電子迷霧"中拯救您的科研利器
- SEM掃描電鏡的操作難不難？看完這篇就懂了！
- SEM掃描電鏡總出問題？抗振防磁是科研和工業(yè)檢測(cè)的“隱形守護(hù)者”
- SEM掃描電鏡獲取高質(zhì)量圖像的黃金條件：從樣品制備到參數(shù)設(shè)置的全程解析
- SEM掃描電鏡在高分子材料領(lǐng)域中的應(yīng)用案例深度解析
津公網(wǎng)安備12011002023086號(hào)
首頁
產(chǎn)品
案例
聯(lián)系