SEM掃描電鏡與透射電鏡不同點之分析信號
日期:2023-11-30 09:41:06 瀏覽次數(shù):42
一、分析信號
掃描電鏡:
掃描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時,被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時,也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動(聲子)、電子振蕩(等離子體)。原則上講,利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機理,采用不同的信息檢測器,使選擇檢測得以實現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集,可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息;對X射線的采集,可得到物質(zhì)化學成分的信息。
透射電鏡:
根據(jù)德布羅意(De Broglie,20世紀法國科學家)提出的運動的微觀粒子具有波粒二象性的觀點,電子束流也具有波動性,而且電子波的波長比可見光要短得多(例如200千伏加速電壓下電子波波長為0.00251納米),顯然,如果用電子束作光源制成的顯微鏡將具有比光學顯微鏡高得多的分辨能力。更重要的是,由于電子在電場中會受到電場力運動,以及運動的電子在磁場中會受到洛倫茲力的作用而發(fā)生偏轉(zhuǎn),這使得使用科學手段使電子束聚焦和成像成為可能。
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