掃描電鏡和透射電鏡是兩種常用的電子顯微鏡，它們在結(jié)構(gòu)和功能上有所不同。

SEM掃描電鏡的工作原理是使用電子束掃描樣品，并通過電子與樣品的相互作用產(chǎn)生各種信號，再通過收集這些信號來生成樣品的圖像。它通常用于觀察樣品表面的形態(tài)和結(jié)構(gòu)，特別適用于觀察粗糙的表面和具有較大景深的樣品。掃描電鏡的空間分辨率通常在幾十納米左右，而它的放大倍數(shù)可以非常大，達(dá)到數(shù)百萬倍。

透射電鏡的工作原理則是通過電子束透過樣品來觀察樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。它通常用于觀察薄樣品或者小尺寸的樣品，因為只有薄樣品才能讓電子束透過并產(chǎn)生清晰的圖像。TEM透射電鏡的空間分辨率通常在幾十埃左右，而它的放大倍數(shù)也可以達(dá)到很高，如數(shù)萬倍。

總結(jié)來說，SEM掃描電鏡和TEM透射電鏡的主要區(qū)別在于觀察樣品的部位和方式。掃描電鏡主要關(guān)注樣品表面，而透射電鏡則更注重樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)。選擇使用哪種設(shè)備取決于研究的目標(biāo)和樣品的特性。