掃描電鏡的參數指標主要包括以下幾個方面：

分辨率：決定了電鏡所能獲取圖像的清晰程度。高分辨率的SEM掃描電鏡能夠更清晰地顯示樣品的細節(jié)和特征。

放大倍率：決定了觀察物體的細節(jié)程度。掃描電鏡通常具有較大的放大范圍，可以觀察到樣品表面的微小結構和特征。

加速電壓：是SEM掃描電鏡中*重要的參數之一，它決定了電子束的能量，從而影響到*終圖像的分辨率和深度。較高的加速電壓可以產生更高的能量電子束，使樣品表面更容易被穿透，從而獲得更深入的圖像細節(jié)。然而，過高的電壓可能會損壞樣品，因此需要進行適當的選擇。

探針電流：指電子束在掃描過程中的強度。較高的探針電流能夠提供更多的電子，從而增強信號強度并減少圖像噪音。然而，過高的探針電流可能會導致樣品的燒損和退火，因此需要根據樣品的特性進行適當的調整。

除了上述主要參數指標外，掃描電鏡還可能涉及其他參數，如樣品倉要求（如*大樣品尺寸）、圖像像素、直方圖功能等，這些參數也會影響SEM掃描電鏡的使用和性能。

請注意，具體的參數指標可能會因不同的掃描電鏡型號和制造商而有所差異。在選擇和使用SEM掃描電鏡時，建議參考具體設備的說明書和技術規(guī)格，以確保滿足研究或應用的需求。