掃描電鏡的分辨率是指它能夠顯示的*小特征尺寸或距離，是衡量SEM掃描電鏡性能的重要參數(shù)之一。分辨率的高低直接影響到掃描電鏡圖像的清晰度和對物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的觀察能力。

一般來說，SEM掃描電鏡的分辨率可能會受到以下因素的影響：

入射電子束束斑直徑：該指標決定了掃描電鏡分辨率的極限。一般場發(fā)射電子槍可使束斑直徑小于3nm。束斑直徑越小，電鏡分辨率越高。

入射電子束在樣品中的擴展效應(yīng)：擴散程度取決于入射束電子能量的高低和樣品原子序數(shù)的大小。入射束能量越高，樣品原子序數(shù)越小，則電子束作用體積越大，產(chǎn)生信號的區(qū)域隨電子束的擴散而增大，從而降低了分辨率。

調(diào)制信號：分辨率與信號本身的能量和信號取樣的區(qū)域范圍相關(guān)。以二次電子為調(diào)制信號為例，由于其能量低（小于50 eV），平均自由程短（10~100nm左右），只有在表層50～100nm的深度范圍內(nèi)的二次電子才能逸出樣品表面，發(fā)生散射次數(shù)很有限，基本未向側(cè)向擴展，因此，二次電子像分辨率約等于束斑直徑，即掃描電鏡分辨本領(lǐng)的極限。

此外，掃描電鏡的分辨率還受到電鏡設(shè)計、電子槍種類、加速電壓、束流、工作距離、光闌孔徑等多種因素的影響。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm，甚至更高。

總之，SEM掃描電鏡的分辨率是評價其性能的重要指標之一，高分辨率的掃描電鏡能夠更清晰地觀察物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)，為科學(xué)研究提供有力的工具。