SEM掃描電鏡在使用中經(jīng)常遇見的問題有那些?
日期:2024-07-23 09:20:47 瀏覽次數(shù):33
掃描電鏡在使用中經(jīng)常遇到的問題主要包括但不限于以下幾個方面:
1. 圖像顯示問題
無圖像顯示:這可能是由于電源未連接正常、計算機連接錯誤、驅(qū)動程序未安裝或電子束管電流和電壓設(shè)置不正確等原因?qū)е碌摹?/span>
圖像模糊:可能由試樣臺和透鏡的灰塵、電子槍聚焦和透鏡設(shè)置不當(dāng)、加速電壓設(shè)置不合適或試樣臺不平穩(wěn)引起。
圖像偏斜或傾斜:這通常與試樣臺的水平度、移動穩(wěn)定性或計算機連接的穩(wěn)定性有關(guān)。
圖像亮度不均勻:電子槍亮度設(shè)置不當(dāng)、透鏡和投影系統(tǒng)的污垢或缺損以及電子束的開啟時間和掃描速度設(shè)置不合適都可能導(dǎo)致此問題。
2. 樣品問題
樣品飄移:這可能是由于樣品固定不牢固、導(dǎo)電性較差、電子束輻照導(dǎo)致導(dǎo)電膠收縮或樣品未充分干燥等原因引起的。樣品飄移會嚴(yán)重影響圖片的拍攝和能譜分析。
樣品截面制樣:對于不同類型的樣品(如脆性薄片、高分子聚合物等),需要采用不同的制樣方法,如液氮脆斷、離子切割或冷凍超薄切片等,以確保獲得高質(zhì)量的截面圖像。
3. 電磁干擾問題
電磁干擾或波紋:SEM掃描電鏡設(shè)備可能受到其他電磁干擾源(如高頻設(shè)備)的影響,導(dǎo)致圖像中出現(xiàn)干擾或波紋。此時,需要將掃描電鏡設(shè)備與其他電磁干擾源保持一定距離,并確保電源線正確接地。
4. 設(shè)備操作與維護問題
操作不當(dāng):如調(diào)焦時不慎使物鏡碰到試樣、在載物臺墊片圓孔中心位置遠(yuǎn)離物鏡中心時切換物鏡等,都可能對設(shè)備造成損害。
設(shè)備維護:非專業(yè)人員不應(yīng)隨意調(diào)整顯微鏡照明系統(tǒng)(如燈絲位置),以免影響成像質(zhì)量。更換鹵素?zé)魰r需注意高溫,避免灼傷,并確保不直接用手接觸鹵素?zé)舻牟Aw。設(shè)備不使用時應(yīng)及時關(guān)掉電源,以延長設(shè)備壽命。
5. 數(shù)據(jù)解釋問題
元素分布圖的噪點:在EDS(能量色散光譜儀)測試中,即使某些元素在樣品中的含量很低或為零,mapping元素分布圖中也可能出現(xiàn)噪點。因此,在解釋數(shù)據(jù)時,應(yīng)以定量數(shù)據(jù)為準(zhǔn)。
6. 樣品導(dǎo)電性問題
不導(dǎo)電樣品的處理:在SEM掃描電鏡測試中,不導(dǎo)電的樣品需要進行導(dǎo)電處理(如噴金、噴鉑或噴碳),以避免充電和放電效應(yīng)對形貌圖觀察和拍照記錄的影響。然而,這些導(dǎo)電層可能會影響EDS測試中對其他元素的能譜分析。
綜上所述,掃描電鏡在使用中可能會遇到多種問題,這些問題涉及圖像顯示、樣品處理、電磁干擾、設(shè)備操作與維護以及數(shù)據(jù)解釋等多個方面。為了獲得高質(zhì)量的測試結(jié)果,用戶需要熟練掌握SEM掃描電鏡的操作技能,并嚴(yán)格按照操作規(guī)程進行操作和維護。
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